Serviços analíticos

Stanford Advanced Materials (SAM) oferece serviços analíticos abrangentes, incluindo inspeção dimensional, teste de condutância elétrica e determinação de tamanho de grão. Nosso laboratório avançado é equipado com instrumentos de última geração para testes como GDMS, ICP-MS e ICP-OES.

Também oferecemos testes de propriedades mecânicas usando SEM, TEM e análise de difração de raios X (XRD), fornecendo percepções precisas sobre o comportamento do material. Com um compromisso com a qualidade e a precisão, a SAM é o seu parceiro de confiança para serviços confiáveis de teste e análise.

LISTA COMPLETA DE SERVIÇOS

Inspeção dimensional

A Inspeção Dimensional garante a medição precisa e a verificação das dimensões dos componentes para atender às especificações exatas.

Teste de condutância elétrica

O teste de condutância elétrica mede a capacidade dos materiais de conduzir corrente elétrica, garantindo o desempenho ideal em aplicações elétricas.

GDMS

O GDMS (Glow Discharge Mass Spectrometry) fornece análise elementar precisa de materiais sólidos, detectando traços e elementos em massa para controle de qualidade e verificação de materiais.

Determinação do tamanho do grão

A Determinação do Tamanho do Grão analisa a microestrutura dos materiais para avaliar o tamanho do grão, o que afeta a resistência e o desempenho do material.

ICP-MS

A ICP-MS (Espectrometria de Massa com Plasma Indutivamente Acoplado) é uma técnica altamente sensível usada para detectar e quantificar elementos residuais em vários materiais.

ICP-OES

A ICP-OES (Espectroscopia de Emissão Óptica com Plasma Indutivamente Acoplado) é uma técnica usada para a detecção e análise precisas de vários elementos em uma amostra por meio de emissão de luz.

Propriedades mecânicas

Os testes de propriedades mecânicas avaliam a resistência, a elasticidade, a dureza e a durabilidade de um material para garantir que ele atenda aos requisitos de desempenho.

SEM

O SEM (Microscopia Eletrônica de Varredura) fornece imagens detalhadas de superfícies de materiais em altas ampliações para uma análise estrutural precisa.

TEM

A TEM (Microscopia Eletrônica de Transmissão) oferece imagens de alta resolução de estruturas de materiais em nível atômico para uma análise aprofundada.

Análise de difração de raios X (XRD)

A análise de difração de raios X (XRD) identifica a estrutura cristalina dos materiais, fornecendo informações sobre a composição da fase e as propriedades do material.

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