Condução de superfície e resistividade elétrica reduzida no semimetal NbP não cristalino ultrafino

Título	Condução de superfície e resistividade elétrica reduzida no semimetal NbP não cristalino ultrafino
Autores	Asir Intisar Khan, Akash Ramdas, Emily Lindgren, Hyun-Mi Kim, Byoungjun Won, Xiangjin Wu, Krishna Saraswat, Ching-Tzu Chen, Yuri Suzuki, Felipe H. da Jornada, Il-Kwon Oh, Eric Pop
Revista	Ciência
data	01/03/2025
Doi	10.1126/science.adq7096
Introdução	A resistividade elétrica de metais convencionais, como o cobre, normalmente aumenta em filmes finos devido à dispersão de elétrons na superfície, o que limita seu desempenho em eletrônicos em nanoescala. Este estudo revela uma diminuição inesperada da resistividade com a redução da espessura do filme em filmes semimetálicos de fosfeto de nióbio (NbP) depositados a 400°C. Filmes com espessura inferior a 5 nanômetros apresentam resistividade à temperatura ambiente significativamente menor do que o NbP em massa e os metais convencionais de espessura semelhante. Esses filmes não cristalinos apresentam ordem nanocristalina local em uma matriz amorfa. Nossa análise indica que a condução do canal de superfície, a alta densidade de portadores de superfície e a boa mobilidade contribuem para a menor resistividade à medida que a espessura diminui. Essas descobertas sugerem o potencial de fios ultrafinos e de baixa resistividade na nanoeletrônica, além das limitações convencionais do metal.
Citação	Asir Intisar Khan, Akash Ramdas e Emily Lindgren et al. Surface conduction and reduced electrical resistivity in ultrathin noncrystalline NbP semimetal. Science. 2025. Vol. 387(6729):62-67. DOI: 10.1126/science.adq7096
Elemento	Nióbio (Nb)
Materiais	Semicondutores
Indústria	Eletrônicos