Ponto excepcional quiral e supressão coerente de retroespalhamento em microrrespingos de silício com dispersor Mie de baixa perda

Título	Ponto excepcional quiral e supressão coerente de retroespalhamento em microrrespingos de silício com dispersor Mie de baixa perda
Autores	Hwaseob Lee, Ali Kecebas, Feifan Wang, Lorry Chang, Sahin K. Özdemir, Tingyi Gu
Revista	eLight
data	09/04/2023
Doi	10.1186/s43593-023-00043-5
Introdução	Os pontos excepcionais (EPs) dos sistemas não hermitianos são fundamentais para o lasing, o controle do transporte de luz e o aprimoramento do sensor. A obtenção tradicional de EPs em ressonadores de anel envolve nanotips, mas a compreensão do impacto da simetria dos nanotips e da perda de dispersão é limitada. Aqui, os dispersores Mie definidos obtêm EPs, permitindo o transporte de luz quiral e a supressão de retroespalhamento, melhorando os fatores de qualidade. Essa plataforma é fundamental para aplicações de ressonância estável, como pentes de frequência e óptica não linear.
Citação	Hwaseob Lee, Ali Kecebas e Feifan Wang et al. Chiral exceptional point and coherent suppression of backscattering in silicon microring with low loss Mie scatterer. eLight. 2023. Vol. 3(1). DOI: 10.1186/s43593-023-00043-5
Elemento	Silício (Si)
Indústria	Ótica