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Substrato de SiO2/Si revestido de Ni CY3454

Número de catálogo. CY3454
Composição Ni, SiO2, Si
Pureza >99.99%
Dimensões 4", 10x10x0,5 mm ou personalizado
Acabamento da superfície Um lado polido
Orientação <100> ±0.5°

Substrato de SiO2/Si revestido de Ni pode ser utilizado na área de nano, microscopia eletrônica de varredura (SEM), microscopia de força atômica (AFM) e outras variáveis de microscópios de sondas de varredura. Stanford Advanced Materials (SAM) possui experiência na fabricação e fornecimento de produtos ópticos de alta qualidade.

Produtos relacionados: Substrato de SiO2/Si revestido de Ti, Substrato de SiO2/Si revestido de Cu, Wafer Silício Banho de Ouro, Wafer Silício Banho de Pt, Wafer Silício Banho de Ag

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