CY2427 Substratos de cristal de dióxido de silício (quartzo SiO2)

Número de catálogo.	CY2427
Tamanho	10x10x1,0 mm; 10x5x1,0 mm
Material	SiO2 (quartzo)
Orientação	(100)(101)

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Pureza	Grau óptico: 99,99%
Estrutura do cristal	Hexagonal a= 4,914 Å c = 5,405 Å
Dureza	7,0 Mohs
Densidade	2,684 ^g/cm3
Ponto de fusão	1610 graus C (ponto de transição de fase: 573,1 °C)
Constante termoelétrica	1200 mV / °C a 300 °C
Condutividade térmica	0,0033 cal/cm/ °C
Coeficiente de expansão térmica, (CTE) (x10^-6/ K)	perpendicular: 13.71 paralelo: 7,48
Índice de refração	1.544

Pureza	Grau óptico: 99,99%
Estrutura cristalina	Hexagonal a= 4,914 Å c = 5,405 Å
Dureza	7,0 Mohs
Densidade	2,684 ^g/cm3
Ponto de fusão	1610 graus C (ponto de transição de fase: 573,1 °C)
Constante termoelétrica	1200 mV / °C a 300 °C
Condutividade térmica	0,0033 cal/cm/ °C
Coeficiente de expansão térmica, (CTE) (x10^-6/ K)	perpendicular: 13.71 paralelo: 7,48
Índice de refração	1.544

CY2427 Substratos de cristal de dióxido de silício (quartzo SiO2)

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