Substratos de cristal único de tungstato de cádmio (CdWO₄) CY2532

Q: O valor de Ra <1 nm também especifica a planicidade?

Não. A rugosidade descreve a textura da superfície em pequena escala. A planicidade, o paralelismo e a uniformidade da espessura são requisitos distintos e devem ser especificados quando necessário.

Q: Esse substrato pode ser usado diretamente como detector de raios X?

Trata-se de um substrato de cristal, não de um detector completo. Os experimentos de detecção exigem propriedades de cintilação, geometria, acoplamento óptico e leitura adequados. Verifique esses requisitos separadamente antes de selecionar o componente.

Número de catálogo.	CY2532
Dimensões	10 × 10 × 0,5 mm; dimensões personalizadas disponíveis
Orientação	(001), (010) ou (100) ±0,5°
Rugosidade da superfície	Ra < 1 nm
Material	CdWO₄
Sinônimos	Substrato de tungstato de cádmio; Substrato monocristalino de CdWO₄; Substrato de CWO; Monocristal de tungstato de cádmio

Os substratos de cristal único de tungstato de cádmio (CdWO₄, também chamado de CWO) são oferecidos no formato 10 × 10 × 0,5 mm, com dimensões personalizadas disponíveis. As orientações de superfície listadas incluem (001), (010) e (100), com uma tolerância de orientação de ±0,5°.

Para consultas, forneça as dimensões, a orientação da superfície, a quantidade e os requisitos de polimento. Inclua quaisquer erros de corte, tolerâncias dimensionais ou requisitos ópticos específicos da aplicação.

Produtos relacionados: Cristal de cintilação de tungstato de cádmio (CdWO₄), substratos de cristal de aluminato de lítio (LiAlO₂), substratos de cristal de galato de neodímio (NdGaO₃).

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Cadmium Tungstate (CdWO4) Single Crystal Substrates

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Parâmetro	Especificação
Dimensões	10 × 10 × 0,5 mm
Dimensões personalizadas	Disponíveis mediante solicitação
Orientação da superfície	(001), (010) ou (100)
Tolerância de orientação	±0,5°
Rugosidade da superfície	Ra < 1 nm (<10 Å)
Método de crescimento	Técnica de Czochralski com baixo gradiente térmico

Propriedade	Valor
Material	Tungstato de cádmio
Fórmula química	CdWO₄
Sistema cristalino	Monoclínico
Parâmetros de rede	a = 5,028 Å; b = 5,859 Å; c = 5,071 Å; β = 91,519°
Densidade	Aproximadamente 7,9 g/cm³
Dureza de Mohs	4–4,5
Ponto de fusão	Aproximadamente 1.325 °C

Parâmetro	Especificação
Dimensões	10 × 10 × 0,5 mm
Dimensões personalizadas	Disponíveis mediante solicitação
Orientação da superfície	(001), (010) ou (100)
Tolerância de orientação	±0,5°
Rugosidade da superfície	Ra < 1 nm (<10 Å)
Método de crescimento	Técnica de Czochralski com baixo gradiente térmico

Propriedade	Valor
Material	Tungstato de cádmio
Fórmula química	CdWO₄
Sistema cristalino	Monoclínico
Parâmetros da rede	a = 5,028 Å; b = 5,859 Å; c = 5,071 Å; β = 91,519°
Densidade	Aproximadamente 7,9 g/cm³
Dureza de Mohs	4–4,5
Ponto de fusão	Aproximadamente 1.325 °C

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Substratos de cristal único de tungstato de cádmio (CdWO₄) CY2532

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Dimensões

10 × 10 × 0,5 mm; dimensões personalizadas disponíveis

Orientação

(001), (010) ou (100) ±0,5°

Rugosidade da superfície

Ra < 1 nm

Material

CdWO₄

Sinônimos

Substrato de tungstato de cádmio; Substrato monocristalino de CdWO₄; Substrato de CWO; Monocristal de tungstato de cádmio

CY2301 Substratos de cristal de aluminato de lítio (LiAlO2)

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Dimensões

10x3, 10x5, 10x10, 15x15, 20x15, 20x20 mm; podem ser personalizadas

Material

LiAlO₂

Sinônimos

Substrato de cristal de aluminato de lítio, substrato de LiAlO₂

CY2302 Substratos de cristal de óxido de neodímio e gálio (NdGaO3)

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Dimensões

10x3, 10x5, 10x10, 15x15, 20x15, 20x20

Material

NdGaO3

Orientação

<100>, <110>, <111>

Método de crescimento

Método Czochralski

FAQ

Quais dimensões e orientações estão listadas?

O tamanho indicado é 10 × 10 × 0,5 mm, com dimensões personalizadas disponíveis. As orientações da superfície incluem (001), (010) e (100), com uma tolerância de orientação indicada de ±0,5°.

(001), (010) e (100) descrevem superfícies cristalinas?

Sim. Os parênteses identificam os planos cristalográficos. Para esse material monoclínico, a designação de um plano não deve ser considerada equivalente a uma direção com os mesmos índices.

O valor de Ra <1 nm também especifica a planicidade?

Não. A rugosidade descreve a textura da superfície em pequena escala. A planicidade, o paralelismo e a uniformidade da espessura são requisitos distintos e devem ser especificados quando necessário.

Esse substrato pode ser usado diretamente como detector de raios X?

Trata-se de um substrato de cristal, não de um detector completo. Os experimentos de detecção exigem propriedades de cintilação, geometria, acoplamento óptico e leitura adequados. Verifique esses requisitos separadamente antes de selecionar o componente.